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  • Particle Metric扫描电镜干粉制剂颗粒检测 电子显微镜
    Particle Metric扫描电镜干粉制剂颗粒检测 电子显微镜

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    更新时间:2024-01-12 型号:Particle Metric 浏览量:1277
  • Phenom Particle Metric颗粒测试
    Phenom Particle Metric颗粒测试

    Phenom Particle Metric颗粒测试以较快、较简便的方式实现颗粒的可视化分析,是微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰图像质量的Phenom飞纳扫描电镜,加上Particle Metric颗粒系统的颗粒图像分析功能,为用户提供了分析颗粒和粉末试样的强大工具。

    更新时间:2023-09-28 型号: 浏览量:1896
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